Wafer epitassiale di nitruro di galliu di 100 mm è 4 pollici di GaN nantu à una cialda epi-layer di zaffiro
U prucessu di crescita di a struttura di u pozzu quanticu di u LED blu GaN. U flussu di prucessu dettagliatu hè u seguente
(1) Cottura à alta temperatura, u substratu di zaffiro hè prima riscaldatu à 1050 ℃ in una atmosfera d'idrogenu, u scopu hè di pulisce a superficia di u substratu;
(2) Quandu a temperatura di u substratu scende à 510 ℃, un stratu tampone GaN/AlN à bassa temperatura cù un spessore di 30 nm hè depositatu nantu à a superficia di u substratu di zaffiro;
(3) Aumentu di a temperatura à 10 ℃, u gasu di reazione ammonia, trimetilgalliu è silanu sò iniettati, rispettivamente cuntrollendu a velocità di flussu currispundente, è u GaN di tipu N dopatu cù siliciu di spessore 4um hè cresciutu;
(4) U gasu di reazione di trimetilaluminiu è trimetilgalliu hè statu utilizatu per preparà continenti A⒑ di tipu N dopati cù siliciu cù un spessore di 0,15 um;
(5) InGaN dopatu cù Zn à 50 nm hè statu preparatu iniettendu trimetilgalliu, trimetilindiu, dietilzincu è ammonia à una temperatura di 8O0 ℃ è cuntrullendu rispettivamente diverse velocità di flussu;
(6) A temperatura hè stata aumentata à 1020 ℃, trimetilaluminiu, trimetilgalliu è bis (ciclopentadienil) magnesiu sò stati iniettati per preparà 0,15 um Mg di AlGaN di tipu P dopatu è 0,5 um Mg di glucosiu in sangue di tipu P G dopatu;
(7) Un filmu di GaN Sibuyan di tipu P d'alta qualità hè statu ottenutu per ricottura in atmosfera d'azotu à 700 ℃;
(8) Incisione nantu à a superficia di stasi G di tipu P per rivelà a superficia di stasi G di tipu N;
(9) Evaporazione di piastre di cuntattu Ni/Au nantu à a superficia p-GaNI, evaporazione di piastre di cuntattu △/Al nantu à a superficia ll-GaN per furmà elettrodi.
Specifiche
Articulu | GaN-TCU-C100 | GaN-TCN-C100 |
Dimensioni | è 100 mm ± 0,1 mm | |
Spessore | 4,5 ± 0,5 um Pò esse persunalizatu | |
Orientazione | Pianu C (0001) ±0,5° | |
Tipu di cunduzione | Tipu N (senza dopaggio) | Tipu N (dopatu cù Si) |
Resistività (300K) | < 0,5 Q・cm | < 0,05 Q・cm |
Cuncentrazione di u trasportatore | < 5x1017centimetri-3 | > 1x1018centimetri-3 |
Mobilità | ~ 300 centimetri2/Vs | ~ 200 centimetri2/Vs |
Densità di dislocazione | Menu di 5x108centimetri-2(calculatu da FWHMs di XRD) | |
Struttura di u substratu | GaN nantu à Zaffiru (Standard: Opzione SSP: DSP) | |
Superficie utilizabile | > 90% | |
Pacchettu | Imballatu in un ambiente di camera bianca di classe 100, in cassette di 25 pezzi o contenitori di wafer singoli, sottu atmosfera di azotu. |
Diagramma dettagliatu


