Wafer di diossidu di siliciu Wafer SiO2 grossu lucidatu, Primu è di prova di qualità

Descrizzione breve:

L'ossidazione termica hè u risultatu di l'esposizione di una cialda di siliciu à una cumminazione di agenti ossidanti è calore per fà un stratu di diossidu di siliciu (SiO2). A nostra sucietà pò persunalizà i fiocchi d'ossidu di diossidu di siliciu cù diversi parametri per i clienti, cù una qualità eccellente; u spessore di u stratu d'ossidu, a cumpattezza, l'uniformità è l'orientazione di u cristallu di resistività sò tutti implementati in cunfurmità cù e norme naziunali.


Dettagli di u produttu

Etichette di u produttu

Introduzione di a scatula di wafer

Prodottu Cialde d'ossidu termicu (Si+SiO2)
Metudu di pruduzzione LPCVD
Lucidatura di Superficie SSP/DSP
Diametru 2 pollici / 3 pollici / 4 pollici / 5 pollici / 6 pollici
Tipu Tipu P / tipu N
Spessore di u stratu d'ossidazione 100nm ~ 1000nm
Orientazione <100> <111>
resistività elettrica 0,001-25000 (Ω•cm)
Applicazione Adupratu per u trasportatore di campioni di radiazione di sincrotrone, u rivestimentu PVD/CVD cum'è substratu, u campione di crescita per sputtering magnetron, XRD, SEM,Forza atomica, spettroscopia infrarossa, spettroscopia di fluorescenza è altri substrati di prova d'analisi, substrati di crescita epitassiale à fasciu moleculare, analisi à raggi X di semiconduttori cristallini

I wafers d'ossidu di siliciu sò filmi di diossidu di siliciu cresciuti nantu à a superficia di i wafers di siliciu per mezu di l'ossigenu o di u vapore acqueo à alte temperature (800°C~1150°C) utilizendu un prucessu d'ossidazione termica cù apparecchiature di tubi di fornu à pressione atmosferica. U spessore di u prucessu varieghja da 50 nanometri à 2 micron, a temperatura di u prucessu hè finu à 1100 gradi Celsius, u metudu di crescita hè divisu in "ossigenu umitu" è "ossigenu seccu" di dui tipi. L'ossidu termicu hè un stratu d'ossidu "cresciutu", chì hà una uniformità più alta, una migliore addensazione è una resistenza dielettrica più alta cà i strati d'ossidu depositati CVD, risultendu in una qualità superiore.

Ossidazione di l'ossigenu seccu

U siliciu reagisce cù l'ossigenu è u stratu d'ossidu si move constantemente versu u stratu di u substratu. L'ossidazione secca deve esse realizata à temperature da 850 à 1200 °C, cù tassi di crescita più bassi, è pò esse aduprata per a crescita di porte isolate MOS. L'ossidazione secca hè preferita à l'ossidazione umida quandu hè necessariu un stratu d'ossidu di siliciu ultra-sottile di alta qualità. Capacità d'ossidazione secca: 15 nm ~ 300 nm.

2. Ossidazione umida

Stu metudu usa u vapore acqueo per furmà un stratu d'ossidu entrendu in u tubu di u fornu in cundizioni di alta temperatura. L'addensificazione di l'ossidazione di l'ossigenu umitu hè ligeramente peghju cà l'ossidazione di l'ossigenu seccu, ma paragunatu à l'ossidazione di l'ossigenu seccu u so vantaghju hè chì hà un tassu di crescita più altu, adattatu per una crescita di film di più di 500 nm. Capacità di ossidazione umida: 500 nm ~ 2 µm.

U tubu di fornu à ossidazione à pressione atmosferica di l'AEMD hè un tubu di fornu orizzontale cecu, chì hè carattarizatu da una alta stabilità di prucessu, una bona uniformità di u filmu è un cuntrollu superiore di e particelle. U tubu di fornu à ossidu di siliciu pò processà finu à 50 wafers per tubu, cù una eccellente uniformità intra- è inter-wafers.

Diagramma dettagliatu

IMG_1589(2)
IMG_1589(1)

  • Precedente:
  • Dopu:

  • Scrivite u vostru missaghju quì è mandateci lu